原子熒光強度與分析物濃度間的關(guān)系

對分析工作者來(lái)說(shuō)，關(guān)心的問(wèn)題是熒光強度與濃度之間的關(guān)系。下面將對此作一些討論。

在理想情況下，假設所研究的體系滿(mǎn)足下列條件：

1)原子只吸收某一頻率的光能，并在被激發(fā)至特定的能級后放出熒光。

2)整個(gè)熒光池處于可被檢測器觀(guān)察到的立體角之內，也即熒光池不存在可吸收入射光而不為檢測器所觀(guān)察到的區域。

3)產(chǎn)生的熒光不會(huì )在熒光池中被重新吸收。

所當指出：光強度與很多因素有關(guān)，重要的包括：

①輻射源的強度

②原子化器中光源照射到的區域內原子的數目（濃度）

③光源輻射/吸收分數

④吸收轉化為輻射擊的效率

⑤原子化器中熒光信號被自吸收的量

據此，可以得到下列關(guān)系式。

 (1-1)

式中：I₀——輻射光能量

——測量的立體角

Ф——熒光效率

A_T——總吸收系數。即吸收的光能與入射光能之比

A_T =                                          (1-2)

按照不同的光源和不同的濃度狀況，可以得到A_T與分析濃度的關(guān)系如表1-2：

表1-2 不同情況下A_T的與待測物濃度之間的關(guān)系

以上為理想狀態(tài)，在實(shí)際情況下，工作曲線(xiàn)變得復雜起來(lái)，必須加一些校正因數，同時(shí)也要看到無(wú)論是線(xiàn)性和連續光源，熒光強度與濃度之間的線(xiàn)性關(guān)系只有在原子為低濃度條件下才能成立。

自吸也是熒光分析中經(jīng)常遇到的，尤其是原子濃度較高時(shí)更應注意；自吸可以引起熒光信號變化熒光譜線(xiàn)變寬，從而減少峰值強度。

線(xiàn)性及連續光源在分析物濃度高時(shí)的熒光強度會(huì )發(fā)生變化，這種現象的主要原因是自吸。

還應指出的是：無(wú)論是連續光源或者線(xiàn)性光源，光源強度越高，其測量線(xiàn)性工作范圍越寬，因為這樣可以使線(xiàn)性下端延至愈來(lái)愈低的濃度值，這就是說(shuō)，在痕量分析時(shí)是不會(huì )遇到曲線(xiàn)彎曲情況的。